首先是陶瓷本体的问题——断裂或微裂，这是最常见的问题之一。断裂现象明显，微裂纹一般出现在内部，难以观察，影响片状电容器的材质、加工技术和片状电容器使用中的机械、热应力等作用因素。

　　其次是片状电容器的电气性能。片状电容器使用一段时间后，绝缘电阻下降，漏电。以上两个问题往往同时发生，互为因果关系。电容器的绝缘电阻是衡量工作中片状电容器泄漏电流的重要参数。泄漏电流大，片状电容器无法储存电量，片状电容器两端电压下降。由于泄漏电流大，片状电容器故障多，引起片状电容器可靠性问题的争论。可靠性问题:片状电容器故障分为三个阶段。

　　第一阶段是片状电容器的生产和使用过程的故障，这个阶段片状电容器的故障与制造和加工技术有关。在片状电容器的制造过程中，在第一道工序中陶瓷粉末、有机粘合剂和溶剂混合材料时，有机粘合剂的选择和瓷浆中的比例决定了瓷浆干燥后瓷膜的收缩率第三道工序丝网印刷时，电极金属层也很重要，否则容易产生强烈的收缩应力。烧结是形成瓷体和片状电容电性能的决定性工序。烧结不良直接影响电性能，内电极金属层与陶瓷介质烧结时收缩不一致，导致瓷体内部产生微裂纹，这些微裂纹不影响一般电性能，但影响产品的可靠性。主要故障模式是片状电容绝缘电阻下降，漏电。

　　防止和消除微裂纹的发生:从原材料选择、瓷浆制备、丝网印刷和高温烧结四个方面优化工艺参数，使片状电容器内部结构合理，电气性能稳定，可靠性好。第二阶段是片状电容器长期工作失效。在这个阶段，片状电容器故障往往是由老化、磨损和疲劳引起的。电子整机到消费者手中都有整机功能障碍。可追溯原因，发现片状电容器漏电流大，故障。一般这类问题来自第一阶段或第二阶段片状电容可靠性隐患的最终暴露，这个阶段的质量比前两个阶段严重得多。由于整机在消费者使用过程中涉及的条件，大部分厂家和部件厂家都模拟试验过，所以片状电容在整机出厂前应符合电子路线的要求，但由于片状电容器使用过程中存在质量问题，应认证研究片状电容器生产或加工过程中的质量隐患。

　　片状电容器的质量问题，尤其是涉及可靠性的质量问题，是一个复杂的过程。其表现形式主要是瓷器断裂、微裂纹或绝缘电阻下降漏电流增大，片状电容器的可靠性失效的质量问题，应从大角度、全方位、阶段分析、研究。